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홈 Ι MPW 신청안내 Ι 칩 테스트
한국 반도체산업의 경쟁력 IDEC에서 설계인력양성의 발판을 마련하겠습니다
테스트 진행 안내

MPW 과정을 통해 만들어진 칩을 Prototype 보드에 실장하여 진행하는 테스트로서, 208 핀의 Probing 을 통한 직접적이고 직관적인 칩 테스트 서비스를 제공함. 칩 테스트는 MPW 과정에 포함되지 않으므로 테스트에 관한 모든 사항은 유저가 개별적으로 관련 업체와 협의하여 진행하는 것을 권장. 단, 관련 업체와 협의시 IDEC MPW 를 통해 의뢰함을 알리고, IDEC 담당자에게도 연락하여 테스트 진행 중임을 알려야 함

테스트 업체 정보
LSI TEST
  • 대표이사 : 이정식

  • 이메일 : jslee@lsitest.com

  • OFFICE : 031-292-5335

  • H.P : 010-7920-7477

  • 홈페이지 : http://www.lsitest.com

  • 주소 : 경기도 수원시 권선구 구운동 111-7 경기중소기업성장지원센터 106호

  • 업체소게
    20년 경력의 테스트 전문 엔지니어가 유저의 설계 요구사항과 각종 constraint 들을 컨설팅하고, 필요한 파일 및 정보들을 유저가 준비해주면 약 2주내의 기간 안에 전반적인 칩 동작 특성 및 오류 사항들을 피드백 받을 수 있다. 업체가 프로그램 코딩 및 테스트 수행을 직접 하기 때문에 오류 발생 및 해결 단계가 아니라면 유저가 특별히 수행해야 할 것은 없음

  • LSI TEST 의 장점
    CHIP 개발에 풍부한 경험을 가진 TEST Eng’r와 설계 담당자간 제품 분석을 통해 제품에 대한 정확한 특성 자료를 Feed-back 받을 수 있고 분석 결과로 완제품에 대한 성능, 문제점 및 Revision Point까지 기술 지원을 받을 수 있음

  • LSI TEST 의 검증 특징     
    1)TEST 전/후 공정 Infra.
    지원 당사의 양산 기술에 대한 다양한 경험을 바탕으로 필요 시, Wafer Test, Ass’y, 신뢰성 공정까지 기술적인 지원이 가능함

    2)Virtual Simulator
    Virtual Simulation Tool을 확보하고 있어, 제품 없이 Test Vector에 대한 Simulation으로 설계 Pattern에 대한 선 검증 및 확인이 가능함

    3)Tester Platform Capability (T6577 Tester : 2007년 Launch)
    208QFP 전체 PIN에 대한 Real Time으로 Device 전원, 입력 Pin의 Voltage/Timing/Current/에 Driving 정보출력 Pin의 Voltage/Strobe Time 등의 Comparator 측정 및 Data의 확인 가능
    Test Pattern Step별 In/Out Pin의 조건 변경 및 확인 가능

    < 상세 스펙 >
    ◆ Device Power: 16 Sets
    ◆ In/Out Ch: 512Ch
    ◆ Speed: 125/250/500MHz
    ◆ Dr/Cp Level : -2.0V to +8.0V
    ◆ Pattern Generator: 64M
    ◆ DC Unit:
      - PPDC: 512Ch
      - MDC: 64Ch
      - UDC: 4CH

    4)Mixed Device
    SOC CHIP의 Digital IP에 대한 특성분석 뿐만 아니라 Mixed Test를 위한 Module도 내장됨

    < Debug Tool >
    ◆ Video/Audio Frequency Generator/Digitizer
    ◆ Base-Band Waveform Generator/Digitizer
    ◆ Oscillator measure unit
    ◆ Sign Wave Generator
    ◆ Jitter Measurement Module
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