특허명 작성자 소속 작성일 784 저전력 스캔 테스트가 가능한 반도체 장치 및 그를 테스트하는 방법 강성호 연세대학교 15.09.03 783 관통전극의 간섭 지연 측정 장치 및 방법 강성호 연세대학교 15.09.03 782 두 지점 간 온도 오차 계산 방법, 그에 따라 계산된 온도 오차를 반영하.. 강성호 연세대학교 15.09.03 781 메모리 수리 장치 및 방법 강성호 연세대학교 15.09.03 780 메모리 수리 장치 및 방법, 그리고 그를 이용한 메모리 칩 강성호 연세대학교 15.09.03 779 회로 장치 및 그를 테스트하는 방법 강성호 연세대학교 15.09.03 778 반도체 장치 강성호 연세대학교 15.09.03 777 메모리 수리 방법 및 메모리 수리 장치 강성호 연세대학교 15.09.03 776 다중바이트 처리 프리필터를 사용한 심층 패킷 검사 가속화 방법 및 이를.. 강성호 연세대학교 15.09.03 775 메모리 수리 장치 및 방법, 그리고 그를 이용한 메모리 칩 강성호 연세대학교 15.09.03 774 메모리 수리 장치 및 방법 강성호 연세대학교 15.09.03 773 반도체 장치 및 이의 테스트 방법 강성호 연세대학교 15.09.03 772 아날로그-디지털 변환기의 테스트 장치 및 테스트 방법 강성호 연세대학교 15.09.03 771 관통전극의 간섭 지연 측정 장치 및 방법 강성호 연세대학교 15.09.03 770 저전력 스캔 테스트가 가능한 반도체 장치 및 그를 테스트하는 방법 강성호 연세대학교 15.09.03 769 3차원 매니코어 프로세서를 위한 전압섬 형성 방법 강성호 연세대학교 15.09.03 768 멀티코어 장치, 테스트 장치 및 고장 진단 방법 강성호 연세대학교 15.09.03 767 Data Storage Device and operating method thereof 정의영 연세대학교 15.09.03 766 전력 관리를 수행하는 반도체 장치 및 그 동작 방법 정의영 연세대학교 15.09.03 765 PES 박막상의 전송선로 구조체 윤영 한국해양대학교 15.09.03 1 ◀ 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 ▶ 157 통합 검색어
