Thermal Effect Reduction Layout Technique for Nano-Scale CMOS Technologies 2020.04.23. 14:46 Minhyun Jin 논문번호 : 202003046 주저자 : Minhyun Jin 소속 : Dongguk university 지도교수 : 송민규 전시담당자 : 진민현(mhjin91@dongguk.edu) 포스터 : 댓글 0 ↓
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