Characterization of 28-nm MOSFET and Wire Devices for Cryogenic Computing 2021.05.04. 11:01 Gyuhyeon Lee 논문번호 : 202103067 주저자 : Gyuhyeon Lee 소속 : Seoul National University 지도교수 : Jangwoo Kim 전시담당자 : Dongmoon Min(dongmoon.min@snu.ac.kr) 포스터 : 댓글 0 ↓
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