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	논문제목	논문집명	작성자	소속	작성일
7429	GateRL: Automated Circuit Design Framework of CM..	SCI	남형식	경희대학교	22.02.11
7428	A 28.7V Modular Supply Multiplying Pulser With 7..	IEEE TCAS II	지동우	아주대학교	22.02.11
7427	A Circular-based TSV Repair Architecture	기타 국제학회	강성호	연세대학교	22.02.11
7426	Hardware Efficient Built-in Self-test Architectu..	기타 국제학회	강성호	연세대학교	22.02.11
7425	Hybrid Test Access Mechanism for Multiple Identi..	기타 국제학회	강성호	연세대학교	22.02.11
7424	Area Efficient Built-In Redundancy Analysis usin..	기타 국제학회	강성호	연세대학교	22.02.11
7423	Secure Scan Design through Pseudo Fault Injection	기타 국제학회	강성호	연세대학교	22.02.11
7422	Post-bond Repair of Line Faults with Double-bit ..	기타 국제학회	강성호	연세대학교	22.02.11
7421	An Effective Spare Allocation Methodology for 3D..	기타 국제학회	강성호	연세대학교	22.02.11
7420	Wide Tuning-range LO Chain with a Hybrid Inducto..	국내저널	류성한	한남대학교	22.02.11
7419	ECC-Aware Fast and Reliable Pattern Matching Red..	A등급외 관련분야 ..	강성호	연세대학교	22.02.11
7418	Low-Power Scan Correlation-Aware Scan Cluster Re..	A등급외 관련분야 ..	강성호	연세대학교	22.02.11
7417	Reconfigurable Scan Architecture for High Diagno..	A등급외 관련분야 ..	강성호	연세대학교	22.02.11
7416	A Low-Power BIST Scheme Using Weight-Aware Scan ..	A등급외 관련분야 ..	강성호	연세대학교	22.02.11
7415	A Secure Scan Architecture Protecting Scan Test ..	A등급외 관련분야 ..	강성호	연세대학교	22.02.11
7414	Enhanced Postbond Test Architecture for Bridge D..	A등급외 관련분야 ..	강성호	연세대학교	22.02.11
7413	Aligned CuO nanowire array for a high performanc..	SCI	윤준보	KAIST	22.02.11
7412	Effective Spare Line Allocation Built-in Redunda..	A등급외 관련분야 ..	강성호	연세대학교	22.02.11
7411	On-Chip Error Detection Reusing Built-In Self-Re..	A등급외 관련분야 ..	강성호	연세대학교	22.02.11
7410	An In-DRAM BIST for 16 Gb DDR4 DRAM in the 2nd 1..	A등급외 관련분야 ..	강성호	연세대학교	22.02.11

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