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	논문제목	논문집명	작성자	소속	작성일
2789	A CMOS Power Amplifier Using Split Input and Out..	SCI-E	박창근	숭실대학교	16.10.16
2788	Design Methodology for a Switching Mode RF CMOS ..	SCI-E	박창근	숭실대학교	16.10.16
2787	An Integrated Design of Quasi-Zero Stiffness Mec..	SCI-E	박창근	숭실대학교	16.10.16
2786	A Linear CMOS Power Amplifier Using Class-D to R..	SCI-E	박창근	숭실대학교	16.10.16
2785	A CMOS Power Amplifier Using a Split Cascode Str..	SCI-E	박창근	숭실대학교	16.10.16
2784	Study of Stability Problems Due to the Undesired..	SCI-E	박창근	숭실대학교	16.10.16
2783	A Differentially Coupled Series Inductor for Dif..	SCI-E	박창근	숭실대학교	16.10.16
2782	NTV 회로의 온도 편차와 테스트 신뢰성에 관한 고찰	기타(2015년도 ..)	강성호	연세대학교	16.10.15
2781	효율적인 적층 후 관통 전극 테스트 기법	기타(제17회 한..)	강성호	연세대학교	16.10.15
2780	NTV 환경에서의 합선 고장 검출 향상을 위한 테스트..	기타(2016년도 S..)	강성호	연세대학교	16.10.15
2779	Scan Chain Reordering-aware X-Filling and Stitch..	기타(IEEE 24th ..)	강성호	연세대학교	16.10.15
2778	A New In-field Bad Block Detection Scheme for NA..	ISOCC	강성호	연세대학교	16.10.15
2777	2-D compaction Method using Macro block for Post..	ISOCC	강성호	연세대학교	16.10.15
2776	A Scan Segment Skip Technique for Low Power Test	ISOCC	강성호	연세대학교	16.10.15
2775	A New Built-in Redundancy Analysis Algorithm Bas..	ISOCC	강성호	연세대학교	16.10.15
2774	Failure Bitmap Compression Method for 3D-IC Redu..	ISOCC	강성호	연세대학교	16.10.15
2773	Optimized Built-In Self-Repair for Multiple Memo..	IEEE	강성호	연세대학교	16.10.15
2772	Parallelized Network-on-Chip-Reused Test Access ..	IEEE	강성호	연세대학교	16.10.15
2771	Tri-State Coding using Reconfiguration of Twiste..	IEEE	강성호	연세대학교	16.10.15
2770	Lifetime Reliability Enhancement of Microprocess..	ACM	강성호	연세대학교	16.10.15

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