특허명 작성자 소속 작성일 3942 집적회로 내부 신호 지연 및 전압 세기 동시 측정 측정 회로 강성호 연세대학교 26.01.23 3941 패턴 브로드캐스팅 기반으로 병렬 테스트를 수행하는 PIM 장치 및 그 동.. 강성호 연세대학교 26.01.23 3940 덧셈기 트리 기반 PIM 장치 및 그 테스트 방법 강성호 연세대학교 26.01.23 3939 게이트 수준 확률 기반 스캔 시프트 스위칭 활동 추정 장치 및 방법 강성호 연세대학교 26.01.23 3938 압축된 테스트 벡터를 사용하는 테스트 장치 강성호 연세대학교 26.01.23 3937 모듈 모니터링 장치 및 방법 강성호 연세대학교 26.01.23 3936 자가 수리 기능을 갖춘 가산기 트리 기반의 MAC 연산기를 포함하는 PIM .. 강성호 연세대학교 26.01.23 3935 자가 테스트 기능을 갖춘 가산기 트리 기반의 MAC 연산기를 포함하는 PIM.. 강성호 연세대학교 26.01.23 3934 피벗 기반 균등 부하 메모리 수리 시스템 및 방법 강성호 연세대학교 26.01.23 3933 수리 가능성 기반 메모리 고장 정보 전송 장치 및 방법 강성호 연세대학교 26.01.23 3932 3차원 반도체 시스템의 고속 오류 감지 기반 재요청 처리 시스템 및 방법 강성호 연세대학교 26.01.23 3931 공유 예비 셀 기반의 메모리 수리 분석 방법 및 장치 강성호 연세대학교 26.01.23 3930 관통 실리콘 비아를 테스트하기 위한 다이, 장치 및 방법 강성호 연세대학교 26.01.23 3929 칼만 필터 기반의 센서 모니터링 장치, 시스템 및 방법 강성호 연세대학교 26.01.23 3928 고속 인터커넥트 테스트를 위한 내장형 자가 진단 장치 및 방법 강성호 연세대학교 26.01.23 3927 내장형 자체 테스트 회로를 포함하는 프로세서 및 그 동작 방법, 내장형 .. 강성호 연세대학교 26.01.23 3926 내장형 자체 테스트 회로를 포함하는 프로세서 및 그 동작 방법, 내장형 .. 강성호 연세대학교 26.01.23 3925 내장 자가 테스트 장치를 포함한 반도체 장치 및 이의 동작 방법 강성호 연세대학교 26.01.23 3924 TSV 테스트 장치 강성호 연세대학교 26.01.23 3923 SCAN CHAIN SECURITY CIRCUIT AND DRIVING METHOD THEREOF 강성호 연세대학교 26.01.23 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 ▶ 204 통합 검색어
