| 강의제목 | VLSI 테스팅 | |||||||||||||||||
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| 구분 | 한양대 / 설계강좌 / 초급/중급 / 이론+실습 | |||||||||||||||||
| 강의시간 | 8.5시간 | 열람기간 | 12일 | |||||||||||||||
| 이용료(일반) | 25,500원 | 이용료(학생) | 17,000원 | |||||||||||||||
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2016년 8월 23일~ 24일 한양대 IDEC 센터에서 진행된 'VLSI 테스팅' 강의 동영상입니다. [강의 개요] 8월 23일 한밭대학교 이현빈 교수 - 제목 : 노화 테스트를 위한 설계기술 - 내용 개요 : 본 강좌에서는 하드웨어 신뢰성 향상을 위한 기술을 소개한다. 시스템의 신뢰성의 개념 및 신뢰성 기술의 필요성 소개를 시작으로, 지금까지 소개되었던 칩 신뢰성 향상 기술을 살펴본다. 특히, 칩의 일시적인 오류나 노화로 인한 사고를 방지하기 위한 모니터링 기술과, 그러한 기술을 구현하기 위해서 필요한 기존 테스트 표준인 IEEE Std 1500과 IEEE Std 1687을 소개한다. 8월 23일 연세대학교 강성호 교수 - 제목 : 메모리 테스트 BIST/BISR - 내용 개요: 본 강의에서는 로직과 다른 메모리의 테스트방법에 대해 알아본다. 또한 메모리에 회로를 추가하여 자체적으로 테스트를 수행하는 MBIST(Memory Built In Self Test)의 다양한 방법과 장단점을 알아본다. 또한 메모리의 경우 제조시 불량셀이 생기는 경우 이를 수리하여 사용하게 되는데 메모리에 회로를 추가하여 불량셀을 여분의 셀로 대체하는 MBISR(Memory Built In Self Repair)에 대해 설명한다. 8월 24일 한양대학교 박성주 교수 , 김두영 조교 - 제목 : 스캔/JTAG 테스트 - 내용 개요: 반도체 칩의 집적도 증가에 따라서 다양한 고장을 테스트하는 비용도 상대적으로 증가하고 있다. 효율적인 VLSI 테스트를 위해서는 설계 단계에서부터 테스트를 고려한 설계기술이 접목되어야 한다. 본 강의에서는 VLSI 테스트 설계기술을 학습하고 설계 툴을 이용하여 직접 실습을 진행한다. 스캔설계 및 JTAG, IEEE 1500, IEEE 1678 등 다양한 테스트 설계 표준화 기술을 살펴본다. 메모리 테스트 관련 BIST 및 BISR 기술을 학습하고 신뢰성 및 노화고장 진단기술을 살펴본다. 상용 설계 툴을 이용하여 스캔설계 실습을 진행한다. [강의대상] 학부생/석박사/일반인 * 본 강의의 오프라인 강의는 이론 + 실습으로 진행 되었습니다§§§ ※ 이 영상은 저작권법에 의해 보호됩니다. 본 강의 영상의 무단 복제 및 배포를 금지합니다
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| 강의자료 |
vlsi 강의자료.zip |
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