| 강의제목 | (S-MOOC) 반도체소자 신뢰성 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 구분 | 충북대 / 설계강좌 / 초급 / 이론+실습 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 강의시간 | 1시간 | 열람기간 | 7일 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 이용료(일반) | 무료 | 이용료(학생) | 무료 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
강의개요반도체 MOSFET 소자에서 Tunneling 현상, Short channel effects, DIBL, GIDL, NBTI 등 신뢰성 이슈에 대해서 학습한다. 사전지식참고사항반도체 설계를 위한 반도체 신뢰성 관련 이해를 돕기 위하여 수강생들이 쉽고 편리한 접근성을 이용하여 짧은 시간동안 궁금하고 학습하고자 하는 내용을 소주제별로 나누어 소규모강좌 S-MOOC(semiconductor-Massive open online course)로 제작하여 활용할 수 있도록 함 ※ 이 영상은 저작권법에 의해 보호됩니다. 본 강의 영상의 무단 복제 및 배포를 금지합니다
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