| IP명 | OTP & MTP 및 CIS 회로 개발을 위한 테스트 패턴 고안 | ||
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| Category | Analog | Application | Test pattern |
| 실설계면적 | 3.8㎛ X 3.8㎛ | 공급 전압 | 1.8/3.3V |
| IP유형 | Soft IP | 동작속도 | 100MHz |
| 검증단계 | Silicon | 참여공정 | MS180-1801 |
| IP개요 | 테스트패턴은 크게 2가지 종류로 나뉠 수 있다. 우선적으로 OTP & MTP를 test 하기 위한 circuit pattern을 제작하였다. 두번째로는 CIS(CMOS Image Sensor)를 테스트하기 위해 다양한 크기의 transistor를 이용하여 4T APS를 구성하였다. 이때 photodetector는 photodiode를 사용하기 위해 사이즈를 크게 한 diode 위에 salicide blocking layer를 만들었다. 또한 current mirror를 추가하여 전압원을 연결하였을 때 current가 어떻게 변하는지 확인해 보도록 하였다. | ||
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- 레이아웃 사진 -
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