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성과 : 특허

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"한국 반도체산업의 경쟁력"

IDEC에서 설계인력양성의 발판을 마련하겠습니다.

  특허명 작성자 소속 작성일
1777 METHOD FOR MANAGING OF MEMORY ADDRESS MAPPING TABLE FOR DATA STORAGE.. 홍유표 동국대학교 18.11.16
1776 나노 CMOS 기술 기반의 누설 전류 특성을 이용한 표준 3진수 논리 회로 .. 김경록 UNIST 18.11.15
1775 서스펜디드 채널 플라즈마파 소자의 성능을 평가하기 위한 방법 김경록 UNIST 18.11.15
1774 게이트 메탈을 안테나로 활용하는 링 형의 THZ 파 검출용 전계-효과 트렌.. 김경록 UNIST 18.11.15
1773 플라즈마파 트랜지스터의 성능을 평가하는 방법 김경록 UNIST 18.11.15
1772 표면거칠기산란을 최소화 또는 없앤 짧은채널 전계효과트랜지스터 소자 .. 김경록 UNIST 18.11.15
1771 서스펜디드 채널 플라즈마파 소자의 성능을 평가하기 위한 방법 김경록 UNIST 18.11.15
1770 플라즈마파 트랜지스터의 성능을 평가하는 방법 김경록 UNIST 18.11.15
1769 나노 CMOS 기술 기반의 누설 전류 특성을 이용한 표준 3진수 논리 회로 .. 김경록 UNIST 18.11.15
1768 서스펜디드 채널 플라즈마파 트랜지스터의 성능 평가 방법 김경록 UNIST 18.11.15
1767 온칩버스를 기반으로 런-타임 하드웨어 트로이 목마 검출하는 방법 및 온.. 류광기 한밭대학교 18.11.12
1766 Clock Generator 김대정 국민대학교 18.11.12
1765 Clock Generator 모현선 국민대학교 18.11.12
1764 다중 칩 검출기 장치 이재성 고려대학교 18.11.12
1763 센스 앰프 회로 및 그에 따른 동작 방법 윤홍일 연세대학교 18.11.12
1762 극 부호-CRC 연접 부호를 이용한 병렬 연속 제거 극 부호화-복호화 방법 .. 이한호 인하대학교 18.11.12
1761 신드롬 기반 연판정 BCH 복호 장치 및 그 방법 이한호 인하대학교 18.11.12
1760 적층 반도체 회로의 시분할 테스트 방법 및 장치 박성주 한양대학교 18.11.12
1759 IC chip의 저전력 테스트를 위한 테스트 방법 및 장치 박성주 한양대학교 18.11.12
1758 혈당 측정 장치 및 그 제조방법 변영재 UNIST 18.11.11
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