| IP명 | CMOS Image sensor device의 아날로그 신뢰성 특성 분석을 위한 Test patterns 고안 | ||
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| Category | Analog | Application | test pattern |
| 실설계면적 | 4㎛ X 4㎛ | 공급 전압 | 3.3V |
| IP유형 | Soft IP | 동작속도 | 100kHz |
| 검증단계 | Silicon | 참여공정 | SS65-1802 |
| IP개요 | CMOS image sensor의 Noise 특성 분석을 위한 Test pattern 설계 | ||
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- 레이아웃 사진 -
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