| IP명 | A novel test pattern for analog/mixed signal device reliability and low frequency frequency noise measurements | ||
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| Category | Analog | Application | 반도체 Device Parameter extraction test pattern |
| 실설계면적 | 3.8㎛ X 3.8㎛ | 공급 전압 | 1.8 & 3.3V |
| IP유형 | Hard IP | 동작속도 | 500MHz |
| 검증단계 | Silicon | 참여공정 | MS180-1601 |
| IP개요 | 반도체 소자의 Parameter 추출을 위한, OCCP, 저온환경, 빛/유무에 따른 측정 전용 Device test pattern 설계 | ||
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- 레이아웃 사진 -
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