| IP명 | CMOS Image sensor device의 아날로그 신뢰성 특성 분석을 위한 Test patterns 고안 | ||
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| Category | Analog | Application | CIS |
| 실설계면적 | 3.8㎛ X 3.8㎛ | 공급 전압 | 3.3V |
| IP유형 | Soft IP | 동작속도 | 500kHz |
| 검증단계 | Silicon | 참여공정 | MS180-1803 |
| IP개요 | CIS APS에서 발생하는 다양한 성분의 Noise를 측정하기 위해서 필요로하는 여러가지 test pattern들을 개발하고 삽입하였다. | ||
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- 레이아웃 사진 -
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