특허명 | 작성자 | 소속 | 작성일 | |
---|---|---|---|---|
3104 | Low drop-out regulators and power management integrated circuits inc.. | 최병덕 | 한양대학교 | 24.02.23 |
3103 | DISPLAY DEVICE | 최병덕 | 한양대학교 | 24.02.23 |
3102 | DISPLAY DEVICE | 최병덕 | 한양대학교 | 24.02.23 |
3101 | 디스플레이 장치 및 디스플레이 장치의 제어 방법 | 최병덕 | 한양대학교 | 24.02.23 |
3100 | 단일 극성 다이나믹 로직 회로 | 최병덕 | 한양대학교 | 24.02.23 |
3099 | 단일 극성 다이나믹 로직 회로 | 최병덕 | 한양대학교 | 24.02.23 |
3098 | 광학 지문 센싱 회로를 포함한 화소 회로, 화소 회로의 구동 방법, 및 유.. | 최병덕 | 한양대학교 | 24.02.23 |
3097 | 인증 장치 및 방법 | 최병덕 | 한양대학교 | 24.02.23 |
3096 | 수리 가능한 적층형 집적회로 장치 및 이의 수리 방법 | 강성호 | 연세대학교 | 24.02.23 |
3095 | 오프 커런트 측정 회로 | 최병덕 | 한양대학교 | 24.02.23 |
3094 | 이중 게이트 트랜지스터를 이용한 화소 회로 및 그의 보상 방법 | 최병덕 | 한양대학교 | 24.02.23 |
3093 | 키 얽힘 다중 반전 로직 라킹 회로를 통한 구조 분석 공격 무력화 | 강성호 | 연세대학교 | 24.02.23 |
3092 | 고속 메모리 테스트 장치 및 명령어 집합 | 강성호 | 연세대학교 | 24.02.23 |
3091 | 반도체 테스트 방법 및 이를 이용한 장치 | 강성호 | 연세대학교 | 24.02.23 |
3090 | 화소 회로 | 최병덕 | 한양대학교 | 24.02.23 |
3089 | 3차원 메모리에서의 실리콘 관통 전극 수리 방법 및 장치 | 강성호 | 연세대학교 | 24.02.23 |
3088 | 이중 게이트를 이용한 화소 회로 및 보상 방법 | 최병덕 | 한양대학교 | 24.02.23 |
3087 | 메모리 고장 정보 선행 분석 장치 및 방법 | 강성호 | 연세대학교 | 24.02.23 |
3086 | 합성곱 신경망을 통한 메모리 고장 솔루션 탐색 방법 | 강성호 | 연세대학교 | 24.02.23 |
3085 | 메모리 장치 | 최병덕 | 한양대학교 | 24.02.23 |